ゲートドライバ用絶縁型 DC/DC コンバータ、“タワー・オブ・トーチャー（酷使試験装置）”を通過し、信頼性を実証します。
ユーザー様からよく寄せられる質問の一つが「高 dV/dt アプリケーションで使用した場合、貴社のコンバータはどの程度信頼性がありますか？」です。
この質問への回答として、RECOM は“タワー・オブ・トーチャー（酷使試験装置）”を構築し、同装置を用いて RxxPxx シリーズコンバータに対し、高温環境下、50kHz で長時間 1000V の高スルーレートスイッチング波形を印加する試験を実施しました。
オーストリアのグラーツ大学に所属する高電圧物理学の教授に依頼し、1500 時間に及ぶ過酷な試験の前後でコンバータの分析を行い、その分析には部分放電試験を採用しました。
教授のレポートのハイライトとして、「最大 65kV/µs の速度で 1000V のスイッチングを行っても、絶縁型 DC/DC コンバータの寿命には影響がない」という結論が挙げられます。
すべての技術詳細については、レポートをダウンロードしてご確認ください。
ユーザー様からよく寄せられる質問の一つが「高 dV/dt アプリケーションで使用した場合、貴社のコンバータはどの程度信頼性がありますか？」です。
この質問への回答として、RECOM は“タワー・オブ・トーチャー（酷使試験装置）”を構築し、同装置を用いて RxxPxx シリーズコンバータに対し、高温環境下、50kHz で長時間 1000V の高スルーレートスイッチング波形を印加する試験を実施しました。
オーストリアのグラーツ大学に所属する高電圧物理学の教授に依頼し、1500 時間に及ぶ過酷な試験の前後でコンバータの分析を行い、その分析には部分放電試験を採用しました。
教授のレポートのハイライトとして、「最大 65kV/µs の速度で 1000V のスイッチングを行っても、絶縁型 DC/DC コンバータの寿命には影響がない」という結論が挙げられます。
すべての技術詳細については、レポートをダウンロードしてご確認ください。